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IAF CLiCがIIFES2019出展者セミナーで講演

  【日時】 2019年11月27日(水) 11:20〜12:00
【場所】 東京ビックサイト 西4Fホール セミナー会場B (東京・江東区)
【主催】 一般社団法人 日本電機工業会     一般社団法人 日本電気制御機器工業会
一般社団法人 日本電気計測器工業会
  【タイトル】

 製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について

  【講演者】 藤島 光城 氏  IAF CLiC KPI分科会 主査 (三菱電機)
【趣旨】

 製造現場のIoT化(スマート製造)において、何をいつまでにどの程度の投資で効果があり、どこまでIoT化が推進できたか見える化ができてないため、経営側の投資判断が難しい課題がある。
 そこで製造現場のIoT化の評価指標「SMKL」を定義し、推進方向性を評価することで、経営側の投資判断をし易くします。

講演資料







講演の様子

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