 |
 |
 |
|
【日時】 |
2020年10月23日(金) 13:00〜13:40 |
|
【場所】 |
グランキューブ大阪(中之島・大阪国際会議場) 1006・1007会議場 |
|
【主催】 |
一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
|
【タイトル】 |
製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について
|
|
【講演者】 |
藤島 光城 氏 IAF CLiC KPI分科会 主査 (三菱電機株式会社) |
【趣旨】 |
製造現場のIoT化(スマート製造)において、何をいつまでにどの程度の投資で効果があり、どこまでIoT化が推進できたか見える化ができてないため、経営側の投資判断が難しい課題がある。
そこで製造現場のIoT化の評価指標「SMKL」を定義し、推進方向性を評価することで、経営側の投資判断をし易くします。
|
|
□講演資料
|
|

講演の様子
|
|
(C)Copyright 一般財団法人 製造科学技術センター ( MSTC )
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|