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IAF CLiCが計測展2020 OSAKA出展者セミナーで講演

  【日時】 2020年10月23日(金) 13:00〜13:40
【場所】 グランキューブ大阪(中之島・大阪国際会議場) 1006・1007会議場
【主催】 一般社団法人 日本電気計測器工業会
  【タイトル】

 製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について

  【講演者】 藤島 光城 氏  IAF CLiC KPI分科会 主査 (三菱電機株式会社)
【趣旨】

 製造現場のIoT化(スマート製造)において、何をいつまでにどの程度の投資で効果があり、どこまでIoT化が推進できたか見える化ができてないため、経営側の投資判断が難しい課題がある。
 そこで製造現場のIoT化の評価指標「SMKL」を定義し、推進方向性を評価することで、経営側の投資判断をし易くします。

□講演資料







講演の様子

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