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【日時】 |
２０２０年１０月２３日（金） １３：００〜１３：４０ |
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【場所】 |
グランキューブ大阪（中之島・大阪国際会議場） 1006・1007会議場 |
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【主催】 |
一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
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【タイトル】 |
製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について
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【講演者】 |
藤島 光城 氏 IAF CLiC KPI分科会 主査 （三菱電機株式会社） |
| 【趣旨】 |
製造現場のIoT化（スマート製造）において、何をいつまでにどの程度の投資で効果があり、どこまでIoT化が推進できたか見える化ができてないため、経営側の投資判断が難しい課題がある。
そこで製造現場のIoT化の評価指標「SMKL」を定義し、推進方向性を評価することで、経営側の投資判断をし易くします。
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□講演資料
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講演の様子
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(C)Copyright 一般財団法人 製造科学技術センター ( MSTC )
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