 |
 |
 |
|
【日時】 |
2020年11月6日(金) 9:00 〜 2021年1月16日(土) 23:59 |
|
【場所】 |
Webオンライン視聴 |
|
【主催】 |
一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
|
【タイトル】 |
出展者セミナー:「製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について」
|
|
【講演者】 |
藤島 光城 氏 IAF CLiC KPI分科会 主査 (三菱電機株式会社) |
【趣旨】 |
2020年10月23日に出展者セミナーの講演を行った「計測展2020 OSAKA」の全コンテンツを無料でオンライン視聴ができる「計測展オンライン・プラス」が約2か月間開催されます。
|
|
□申し込みサイト
|
|
|
|
(C)Copyright 一般財団法人 製造科学技術センター ( MSTC )
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|