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IAF CLiCが計測展2020 OSAKAオンライン・プラスに参加

  【日時】 2020年11月6日(金) 9:00 〜 2021年1月16日(土) 23:59
【場所】 Webオンライン視聴
【主催】 一般社団法人 日本電気計測器工業会
  【タイトル】

 出展者セミナー:「製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について」

  【講演者】 藤島 光城 氏  IAF CLiC KPI分科会 主査 (三菱電機株式会社)
【趣旨】

 2020年10月23日に出展者セミナーの講演を行った「計測展2020 OSAKA」の全コンテンツを無料でオンライン視聴ができる「計測展オンライン・プラス」が約2か月間開催されます。

□申し込みサイト




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