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【日時】 |
２０２０年１１月６日（金） ９：００ 〜 ２０２１年１月１６日（土） ２３：５９ |
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【場所】 |
Webオンライン視聴 |
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【主催】 |
一般社団法人 日本電気計測器工業会 |
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【タイトル】 |
出展者セミナー：「製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について」
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【講演者】 |
藤島 光城 氏 IAF CLiC KPI分科会 主査 （三菱電機株式会社） |
| 【趣旨】 |
２０２０年１０月２３日に出展者セミナーの講演を行った「計測展2020 OSAKA」の全コンテンツを無料でオンライン視聴ができる「計測展オンライン・プラス」が約２か月間開催されます。
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□申し込みサイト
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(C)Copyright 一般財団法人 製造科学技術センター ( MSTC )
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