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IAF CLiCがWebセミナー
『産業IoTにおける簡単みえる化指標SMKL、及びMBSE』
を開催

  【日時】 2020年8月24日(月) 14:00〜16:00
【場所】 Webセミナー
【主催】 IAF/制御層情報連携意見交換会(CLiC)
  【講演】

 

  講演1 「SMKLの説明」 藤島 光城 三菱電機

講演2 「IIFESデモシステム説明」 茅野 眞一郎
                    Edgecross IIoTエバンジェリスト

講演3 「製造システムへのMBSEの活用を目指して」 米田 尚登
                           ダッソー・システムズ

【趣旨】

 IAF(※1)では産業用IoTにおけるKPI(※2)やMBSE(※3)の活用で効率的で正確な事業経営を目指しています。特に今後の製造現場の”みえる化”や改善活動にはIoTの導入が必要です。但し、何でもかんでもIoTの導入を進めれば良いわけではなく、費用対効果を考えながら推進すべきです。
 そこで、生産性や品質、在庫、保全、環境などの重要業績評価指標であるKPI毎に、IoTのみえる化状況を4×4のマトリクスで簡単に評価できるSMKL(※4)指標をご紹介します(講演1)。
 また、IoTシステムを素早く構築するために、既存の標準化技術(OPC、
PLCopen、FDT等)やエッジコンピューティングを活用したデモの紹介(講演2)や、MBSEを使い最初からIoT化を考えていく事も非常に重要であり、そのご紹介も併せて実施します(講演3)。


              ※1 IAF: Industrial Automation Forum
              ※2 KPI: Key Performance Indicator
              ※3 MBSE: Model Based Systems Engineering
              ※4 SMKL:Smart Manufacturing Kaizen Leve

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セミナー録画 (385M) :2分10秒からセミナーは始まります。

□講演1 「SMKLの説明」

□講演2 「IIFESデモシステム説明」 

□講演3 「製造システムへのMBSEの活用を目指して」 



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