IAF CLiC(制御層情報連携意見交換会)が計測展2020 OSAKA出展者セミナー(10月23日)で講演しました。

－記－

日時	2020年10月23日(金)　13:00～13:40
会場	グランキューブ大阪（中之島・大阪国際会議場）1006-1007会議室
タイトル	製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について
講演者	藤島光城　IAF CLiC KPI分科会主査（三菱電機株式会社）
内容	製造現場のIoT化（スマート製造）において、何をいつまでにどの程度の投資で効果があり、どこまでIoT化が推進できたかの見える化ができてないため、経営側の投資判断が難しいとの課題がある。そこで製造現場のIoT化の評価指標「SMKL」を定義し、推進方向性を評価することで、経営側の投資判断をし易くする。
登録公式サイト（参加費無料）	https://jemima.osaka/