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IAF CLiC(制御層情報連携意見交換会)が計測展2020 OSAKA出展者セミナーで講演しました。

-記-

日時 2020年10月23日(金) 13:00~13:40
会場 グランキューブ大阪(中之島・大阪国際会議場)1006-1007会議室
タイトル 製造現場のIoT化/見える化を推進するSMKL指標について
講演者 藤島 光城 IAF CLiC KPI分科会主査(三菱電機株式会社)
内容

製造現場のIoT化(スマート製造)において、何をいつまでにどの程度の投資で効果があり、どこまでIoT化が推進できたかの見える化ができてないため、経営側の投資判断が難しいとの課題がある。
そこで製造現場のIoT化の評価指標「SMKL」を定義し、推進方向性を評価することで、経営側の投資判断をし易くする。

登録公式サイト(参加費無料)

https://jemima.osaka/